30mm Trinokular Mikroskop mit SWF 10x/25mm Okulare, Plan Semi-Apo 5/10/20x und Plan Apo 50x, EIS 45mm, Kreuztisch, Durch‑/Auflicht - Euromex

Delphi-X Observer Mikroskop (trinokular)

Das Delphi-X Observer ist ein trinokulares Mikroskop für materialwissenschaftliche Analyse mit hochwertigem Objektivset und flexibel einstellbarem Prüftisch

• Delphi-X Observer trinokular Mikroskop
• SWF Okulare 10x, Feldzahl 25 mm
• Plan semi-apo Objektive 5/10/20x, plan-apo 50x
• Parfokales EIS 45 mm Objektivsystem
• Integrierte 100 W Durch- und Auflicht-Halogenbeleuchtung

Präzision und optische Leistung für Materialwissenschaft

Das Delphi-X Observer liefert eine klare Abbildungsleistung durch kombinierte Verwendung von Plansemi-apo und Plan-apo Objektiven, die speziell für materialwissenschaftliche Anwendungen entwickelt wurden. Durch die hohe Korrektur der Objektive reduziert sich die Bildfeldwölbung, sodass Probenränder genauso scharf abgebildet werden wie das Zentrum. Vorteilhaft ist die Kombination aus Okularen mit 10x Vergrößerung und einer Feldzahl von 25 mm, die ein großes Sichtfeld ermöglicht und gleichzeitig Detailauflösung bietet. Anwender profitieren von präzisen Beobachtungen bei Metallschliffen, Werkstoffprüfungen und Fehleranalysen.

Ergonomie, Probenhandhabung und Messkomfort

Das Mikroskop ist mit einem stabilen Tisch von 210 x 170 mm und einem 105 x 105 mm Kreuztisch ausgestattet, was die Probenpositionierung erheblich vereinfacht. Dieser Aufbau reduziert Rüstzeiten und erhöht die Wiederholgenauigkeit bei Serienmessungen. Zudem sorgt der trinokulare Kopf für paralleles Arbeiten mit visueller Inspektion und Foto- oder Dokumentationssystemen, ohne dass die optische Einstellung verändert werden muss. Für Labor und Werkstatt bedeutet das eine effiziente Arbeitsweise und weniger Umrüstaufwand zwischen visueller Begutachtung und Dokumentation.

Beleuchtungskonzepte für Durch- und Auflichtanwendungen

Die integrierte Halogenbeleuchtung mit 100 W ermöglicht helle, kontrastreiche Beleuchtung sowohl im Durchlicht als auch im Auflicht. Diese Flexibilität ist besonders relevant, wenn wechselnde Probenarten analysiert werden, etwa polierte Metallproben oder strukturierte Keramiken. Durch die einstellbare Lichtführung lassen sich Reflexionen minimieren und Materialoberflächen optimal darstellen. Das Ergebnis ist eine verbesserte Erkennbarkeit von Rissen, Porositäten und Oberflächenfehlern, was die Diagnostik von Fertigungsprozessen unterstützt.

Parfokalität, EIS-System und einfache Bedienung erklärt

Das verbaute EIS 45 mm System sorgt für Parfokalität, das heißt, ein Objektivwechsel bleibt in der Schärfeebene ohne erneutes Nachfokussieren. Diese Eigenschaft spart Zeit und erhöht die Messstabilität bei Vergrößerungswechseln. Parfokal bedeutet außerdem, dass die Dokumentation reproduzierbar bleibt, weil Bildausschnitte und Fokus konsistent übernommen werden. Die Abkürzung SWF bei den Okularen steht für ein weites Sehfeld, was die Orientierung auf der Probe erleichtert. Insgesamt kombiniert das Gerät ergonomische Bedienung mit optischer Robustheit für den täglichen Laboreinsatz.

Empfehlung: Das Delphi-X Observer Mikroskop von Euromex überzeugt durch Präzision und Vielseitigkeit in der Materialwissenschaft und empfiehlt sich für Labor- und Industrieanwendungen; Bestellungen und fachliche Beratung über Metav Werkzeuge GmbH, E-Mail info@metav-werkzeuge.com, Telefon +49 2822 7131930

Produktmerkmale

• Artikelnummer: DX.2053-PLMRi
• Marke: Euromex
• Produktart: Mikroskop
• Serie: Delphi-X Observer
• Mikroskopkopf: trinokular
• Okulartyp: SWF
• Okularvergrößerung: 10x
• Okularfeldzahl: 25 mm

Fakten

• Tischgröße: 210 x 170 mm
• Kreuztisch: 105 x 105 mm
• Beleuchtungsleistung: 100 W
• Objektivserie: 5x, 10x, 20x, 50x
• EIS Abstand: 45 mm

Besonderheiten

• Plan semi-apo Objektive 5/10/20x
• Plan-apo Objektiv 50x
• EIS 45 mm parfokal (Erklärung: Parfokalität reduziert Fokusnachstellungen)
• 100 W Durch- und Auflicht-Halogenbeleuchtung
• Trinokularer Kopf für Dokumentation und Beobachtung

FAQ

Welche Vergrößerungen bietet das Mikroskop?
Das Delphi-X Observer Mikroskop von Euromex (SKU DX.2053-PLMRi) ist mit Plan semi-apo Objektiven in 5x, 10x und 20x sowie einem Plan-apo 50x Objektiv ausgestattet und bietet damit einen vielseitigen Vergrößerungsbereich für Materialanalysen.

Ist ein Kameranschluss für Bilddokumentation möglich?
Ja, der trinokulare Kopf des Delphi-X Observer erlaubt parallelen Anschluss einer Kamera zur Bilddokumentation, sodass visuelle Inspektion und Aufzeichnung gleichzeitig erfolgen können.

Wie unterstützt das System schnellen Objektivwechsel?
Das verbaute EIS 45 mm System im Delphi-X Observer gewährleistet Parfokalität, sodass ein Objektivwechsel in der Regel ohne erneutes Nachfokussieren möglich ist und so Messabläufe beschleunigt werden.

Für welche Probenarten eignet sich das Mikroskop?
Das Delphi-X Observer von Euromex (DX.2053-PLMRi) ist ausgelegt für materialwissenschaftliche Proben wie polierte Metallproben, Keramikproben und Werkstoffquerschnitte, insbesondere dort, wo hohe Schärfe und großes Sichtfeld erforderlich sind.

Welche Tischgröße und Probenbewegung sind vorgesehen?
Der Prüftisch hat Maße von 210 x 170 mm und einen Kreuztisch von 105 x 105 mm, was präzise Probenpositionierung und reproduzierbare Messungen ermöglicht.

Hersteller: Euromex Microscopen bv; Typograaf 8; 6921 VB Duiven; Nederland; info@euromex.com