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25mm Trinokular Mikroskop Plan Semi-Apo Objektive 5/10/20 Plan Apo 50x Parfocal 45mm 210x170mm Tisch Kreuztisch 105x105mm 100W Auflicht - Euromex

Produktinformationen "25mm Trinokular Mikroskop Plan Semi-Apo Objektive 5/10/20 Plan Apo 50x Parfocal 45mm 210x170mm Tisch Kreuztisch 105x105mm 100W Auflicht - Euromex"

Delphi-X Observer Mikroskop

Das Delphi-X Observer ist ein materialwissenschaftliches Labor-Mikroskop mit trinokularem Kopf und leistungsstarker Auflichtbeleuchtung, ausgelegt für präzise Werkstoffanalysen und fotografische Dokumentation

  • Trinokularer Kopf für parallelen Kameraanschluss
  • SWF-Okulare 10x / 25 mm Ø 30 mm
  • Plan Semi-Apo und Plan Apo Objektive
  • EIS 45 mm parfokal für schnellen Objektivwechsel
  • 210 x 170 mm Tisch mit 105 x 105 mm Kreuztisch

Präzise Optik für verlässliche Materialanalyse

Das System kombiniert plan semi-apo und Plan Apo Objektive, um sowohl kontrastreiche Übersichtsaufnahmen als auch hochaufgelöste Detailanalysen zu ermöglichen. Die optische Zusammenstellung reduziert sphärische und chromatische Aberrationen, sodass Messungen und Dokumentationen reproduzierbar bleiben. Für Anwender in der Materialwissenschaft bedeutet das weniger Nacharbeit und schnellere Freigabeprozesse.

Mechanik und Workflow-Optimierung am Arbeitsplatz

Der großzügige 210 x 170 mm Tisch in Kombination mit dem 105 x 105 mm Kreuztisch bietet stabile Probenführung und feine Positionierbarkeit, wodurch Prüfabläufe beschleunigt werden. Das EIS 45 mm parfokale System sorgt dafür, dass beim Wechsel der Objektive die Fokusebene erhalten bleibt, was Umrüstzeiten minimiert und die Messgenauigkeit über mehrere Vergrößerungsstufen konstant hält.

Ergonomie, Dokumentation und Beleuchtung

Der trinokulare Kopf ermöglicht parallele visuelle Inspektion und Kameranutzung, was Laborprozesse effizienter gestaltet und die Datenkonsistenz erhöht. Die 100 W Auflichtbeleuchtung liefert homogenes, kontraststarkes Licht für metallische und polierte Proben und unterstützt so eine präzise Strukturerkennung. Bedienkomfort und dokumentationsfreundliche Architektur reduzieren Schulungsaufwand und erleichtern den Laboralltag.

Einsatzbereiche und Zielgruppen

Das Gerät richtet sich an Prüflabore, Werkstoffprüfer und Forschungseinrichtungen, die zuverlässige, wiederholbare Ergebnisse benötigen. Typische Anwendungen sind Gefügeanalyse, Fehlerlokalisierung, Schliffuntersuchungen und Qualitätskontrollen in Produktion und Forschung. Dank stabilem Aufbau und universellen Objektivoptionen eignet sich das System für anspruchsvolle Routineprüfungen ebenso wie für spezielle Prüfaufgaben.

Empfehlung: Für präzise Werkstoffanalysen und reproduzierbare Dokumentation empfehlen wir das Delphi-X Observer direkt über Metav Werkzeuge; bei Bedarf an technischen Details oder Beratung erreichen Sie uns unter info@metav-werkzeuge.com oder telefonisch +49 2822 7131930

Produktmerkmale

  • Artikelnummer: DX.2053-PLMi
  • Marke: Euromex
  • Serie / Baureihe: Delphi-X Observer
  • Produktart: Mikroskop
  • Mikroskopkopf: trinokular
  • Okulartyp: SWF

Fakten

  • Okularvergrößerung: 10x
  • Okularfeldzahl: 25 mm
  • Objektivvergrößerungen: 5x, 10x, 20x, 50x
  • Parfokaler Tubusabstand: 45 mm (EIS)
  • Tischmaß: 210 x 170 mm
  • Kreuztischmaß: 105 x 105 mm
  • Auflichtleistung: 100 W

Besonderheiten

  • Trinokularer Kopf
  • SWF-Okulare: großes Gesichtsfeld, Ø 30 mm
  • Plan Semi-Apo Objektive: reduzierte Aberration
  • Plan Apo Objektiv 50x: hohe Auflösung für Detailanalyse
  • EIS 45 mm parfokal: Objektivwechsel ohne Neufokus
  • 100 W Auflichtbeleuchtung

FAQ

Welche Objektivkombination eignet sich für Gefügeanalysen?
Für Gefügeanalysen empfiehlt sich die Kombination aus den plan semi-apo Objektiven für Übersicht und dem Plan Apo 50x für Detailbeurteilungen; das Delphi-X Observer liefert so sowohl Überblick als auch hohe Detailauflösung.

Kann eine Kamera parallel zur visuellen Beobachtung betrieben werden?
Ja, der trinokulare Kopf des Delphi-X Observer erlaubt simultane visuelle Kontrolle und Kameraintegration, was Dokumentation und Bildauswertung vereinfacht.

Wie schnell lässt sich zwischen Vergrößerungen wechseln, ohne neu zu fokussieren?
Dank des EIS 45 mm parfokalen Systems bleiben die Fokusebenen beim Objektivwechsel erhalten, wodurch Umrüstzeiten stark reduziert werden und die Messprozesse effizienter ablaufen.

Eignet sich das Mikroskop für metallische Proben mit starkem Kontrastbedarf?
Die 100 W Auflichtbeleuchtung bietet gleichmäßige, starke Ausleuchtung und hebt Oberflächenstrukturen deutlich hervor, wodurch metallische Proben sehr gut beurteilt werden können.

Hersteller: Euromex Microscopen bv; Typograaf 8; 6921 VB Duiven; Nederland; info@euromex.com