Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop

Das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop bietet hochvergrößernde Bildgebung für Labor, Forschung und industrielle Qualitätskontrolle.

• Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop von Dino‑Lite
• Hohe Vergrößerung 400–470x für Detailanalyse
• 1,3 Megapixel Auflösung 1280x960 für Inspektion
• EDOF und EDR für erweiterte Tiefenschärfe
• Aluminiumgehäuse mit austauschbaren Frontkappen

Präzise Messung und sichere Dokumentation für Laborworkflow

Das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop unterstützt präzise Messfunktion und einfache Kalibrierung, wodurch Messwerte reproduzierbar und dokumentationsfähig werden. Die integrierte Messsoftware ermöglicht die Bestimmung von Linien, Winkeln, Radien und Kreisen und exportiert Ergebnisse in Tabellenform für die Weiterverarbeitung. Dadurch lassen sich Prüfprozesse standardisieren und Nachweise für Prüfberichte effizient erstellen.

Hochvergrößerung für detailorientierte Inspektionen

Dank des Vergrößerungsbereichs 400–470x lassen sich feinste Strukturen zuverlässig untersuchen. Diese hohe Vergrößerung eignet sich besonders für Elektronikprüfung, Materialanalyse und mikrostrukturelle Fehlersuche. Für reproduzierbare Ergebnisse empfiehlt sich die Kombination mit einem stabilen Stativ, damit Vibrationen minimiert und die Bildqualität bei feinster Auflösung erhalten bleibt.

Angepasste Beleuchtung und Reflexkontrolle für schwierige Oberflächen

Die Beleuchtungskontrolle mit mehreren Lichtstufen und die FLC-Funktion ermöglichen die gezielte Anpassung der Lichtintensität an unterschiedliche Prüfobjekte. Der Einsatz eines Polarisationsfilters reduziert störende Reflexe auf spiegelnden Oberflächen und erhöht damit die Detailerkennbarkeit. Austauschangebotene Frontkappen und Diffuser erlauben eine individuelle Lichtstreuung für unterschiedlichste Materialien und Prüfbedingungen.

Robuste Bauweise und integrierte Bildverbesserung für den Laboralltag

Das Aluminiumgehäuse des Instruments steht für Stabilität und Langlebigkeit bei täglichem Einsatz. Funktionen wie EDOF (erweiterte Tiefenschärfe) und EDR sorgen für klarere, informationsreiche Bilder bei variabler Probenoberfläche. Die Standard‑Arbeitsabstandskonfiguration bietet ausreichend Raum für typische Prüfaufbauten und erlaubt trotzdem eine kompakte Integration in Prüfplätze. Dieses Modell ist als High‑Magnification‑Lösung konzipiert und gilt als wichtige Ergänzung für jedes moderne Labor.

Für anspruchsvolle Laboranwendungen empfehlen wir das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop; bei Fragen zur Eignung oder zum Einsatz steht METAV Werkzeuge mit kompetenter Beratung zur Verfügung: info@metav-werkzeuge.com, Tel:+49 2822 7131930, WhatsApp:+49 170 2837271.

Wesentliche Merkmale im Überblick

Extreme Vergrößerung für feinste Strukturen

Die Vergrößerung von 400–470x ermöglicht die Analyse von Mikrostrukturen, Grat und Defekten, die mit geringerer Vergrößerung nicht sicher detektierbar wären. Anwender profitieren von einer vergrößerten Detailansicht, die gezielte Fehlerlokalisierung und präzise Dokumentation erlaubt.

Erweiterte Tiefenschärfe für unebene Proben

Die EDOF-Funktion reduziert Unschärfen durch Stapelung mehrerer Fokuslagen, sodass Bereiche mit unterschiedlicher Höhe schärfer dargestellt werden. Diese Technik vereinfacht die Aufnahme reproduzierbarer Bilder bei komplexen Oberflächen und beschleunigt die Analyse.

Reflexminderung durch Polarisationsfilter und flexible Lichtsteuerung

Der kombinierte Einsatz von Polarisationsfilter und flexibler Lichtsteuerung (FLC) minimiert Blendungen und Reflexe auf glänzenden Materialien. Dadurch werden Konturen klarer und Messungen zuverlässiger, besonders bei elektronischen Bauteilen und polierten Metallen.

Präzise Messfunktionen und Kalibrierbarkeit für Prüfprotokolle

Die integrierte Messfunktion ermöglicht die Bestimmung geometrischer Merkmale direkt am Bild und vereinfacht den Export in Tabellenform. Die mitgelieferte Kalibriernorm sorgt für nachvollziehbare Messungen und unterstützt die Erstellung formaler Prüfprotokolle.

Technische Informationen

• Hersteller: Dino‑Lite.
• Serienzugehörigkeit: Dino‑Lite High Magnification.
• Auflösung: 1,3 Megapixel (1280x960).
• Vergrößerung: 400x–470x.
• Arbeitsabstand: Standard.
• Beleuchtung: 8 weiße LEDs.
• Polarisationsfilter: vorhanden.
• FLC (Flexible Lichtsteuerung): vorhanden.
• EDOF (Erweiterte Tiefenschärfe): vorhanden.
• EDR: vorhanden.
• Frontkappen: austauschbar, werden mitgeliefert.
• Gehäusematerial: Aluminium.
• Anschluss: USB 2.0.
• Messfunktion: vorhanden.
• Kalibrierung: mit Kalibriernorm möglich.
• Microtouch: vorhanden.
• Ursprungsland: Taiwan.
• GTIN: 4711203830412.
• Herstellerkontakt: AnMo Electronics Corporation; 17F-1, No. 97, Sec. 4, Chongxin Road, Sanchong Dist., New Taipei City 241513, Taiwan; Tel:+886-2-29749126; E-Mail:Sales@anmo.com.tw.

FAQ

Ist das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop für Leiterplatteninspektion geeignet? Das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop von Dino‑Lite eignet sich sehr gut für Leiterplatteninspektionen, da die hohe Vergrößerung und der Polarisationsfilter Reflexe reduzieren und Details deutlich sichtbar machen.

Wie unterstützt das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop bei Messungen? Mit dem Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop lassen sich Linien, Winkel und Radien direkt am Bild messen und die Messergebnisse für Prüfberichte exportieren, wodurch Prüfprozesse effizient dokumentiert werden können.

Brauche ich zusätzliches Zubehör für stabile Bilder bei hoher Vergrößerung? Für das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop wird ein stabiles Stativ empfohlen, speziell bei Vergrößerungen um 400x bis 470x, um Vibrationen zu minimieren und reproduzierbare Resultate zu gewährleisten.

Kann das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop bei spiegelnden Oberflächen eingesetzt werden? Ja, das Dino‑Lite High Magnification USB Mikroskop ist mit Polarisationsfilter und Diffusern ausgerüstet, wodurch Reflexe reduziert und die Detailerkennbarkeit auf glänzenden Oberflächen verbessert werden.

MetAV Werkzeuge berät gern bei der Auswahl des passenden Mikroskops und bei technischen Fragen.