AM4517MTL-FJ, 10x-140x LWD IR 940nm, 1,3MP, AMR, Aluminiumgehäuse - Dino-Lite
999,00 €
Produktinformationen "AM4517MTL-FJ, 10x-140x LWD IR 940nm, 1,3MP, AMR, Aluminiumgehäuse - Dino-Lite"
Das Dino‑Lite AM4517MTL‑FJ USB Mikroskop vereint Long Working Distance, präzise Messfunktion und empfindliche IR‑Beleuchtung zu einem zuverlässigen Inspektionswerkzeug. Nutzen Sie die Kombination aus stabiler Aluminium‑Ausführung, AMR‑Unterstützung und einstellbarer 940 nm‑Beleuchtung für reproduzierbare Analyse‑ und Reparaturaufgaben. Bestellen Sie direkt über Metav Werkzeuge oder fragen Sie unsere Beratung bei Bedarf an.
Dino‑Lite AM4517MTL‑FJ USB Mikroskop
Das Dino‑Lite AM4517MTL‑FJ USB Mikroskop bietet Infrarot‑Inspektion mit langem Arbeitsabstand für Reparatur, Materialprüfung und Sicherheitsanwendungen.
- 10–140x Vergrößerung für vielseitige Anwendungen
- IR‑Beleuchtung 940 nm mit 32 Intensitätsstufen
- Integrierte AMR für fehlerfreie Messungen
- Long Working Distance für Bauteilfreiheit
- Robustes Aluminiumgehäuse, EMI‑geschirmt
Präzise Prüf‑ und Messabläufe dank automatischer Vergrößerungsanzeige
Die integrierte Automatic Magnification Readout (AMR) macht Messungen schneller und zuverlässiger, weil die Vergrößerung automatisch erfasst und an die Messsoftware übertragen wird. Für Anwender in Fertigung und Labor bedeutet das weniger manuelle Eingaben, geringere Fehlerquoten und eine bessere Nachvollziehbarkeit der Prüfergebnisse. Die Kombination aus AMR und Kalibrierfunktion ermöglicht standardisierte Messabläufe ohne aufwändige manuelle Justage.
Mehr Raum für Arbeitsschritte durch langen Arbeitsabstand
Das EdgePLUS‑Design mit Long Working Distance schafft Abstand zwischen Optik und Prüfling, sodass Lötkolben, Greifer oder größere Bauteile problemlos unter dem Mikroskop positioniert werden können. Dieser zusätzliche Freiraum verbessert die Ergonomie bei Rework‑Aufgaben und erleichtert die Verwendung von Zusatzwerkzeugen. Durch die mitgelieferten Frontkappen für verschiedene Abstände lassen sich Anwendungen schnell anpassen.
Infrarot‑Inspektion für kontraststarke Darstellung spezieller Materialien
Die 8 940 nm‑LEDs liefern ein empfindliches IR‑Licht, das Oberflächenkontraste und verborgene Merkmale bei Kunststoffen, Beschichtungen oder Sicherheitsdrucken hervorhebt. Die einstellbare Helligkeit mit 32 Stufen erlaubt die Feinabstimmung auf empfindliche Proben, ohne sichtbares Licht zu benötigen. So lassen sich Substanzeigenschaften und Strukturunterschiede dokumentieren, die mit Weißlicht schwer zu erkennen sind.
Robustheit, Schnittstellen und Workflow‑Integration
Das Gehäuse aus Aluminium bietet Schutz vor Stößen und elektromagnetischen Störeinflüssen und ist auf den Industrieeinsatz ausgelegt. Die 1,3 Megapixel‑Auflösung und ein flüssiges Livebild mit 30 fps ermöglichen saubere Dokumentation und einfache Integration in Mess‑ und Dokumentationssoftware. Die USB‑Schnittstelle garantiert eine unkomplizierte Anbindung an vorhandene Arbeitsplätze; für reproduzierbare Resultate empfiehlt sich die Kombination mit stabilem Stativ oder Kreuztisch.
Empfehlen Sie das EdgePLUS‑Modell für präzise IR‑Analysen und kontaktieren Sie Metav Werkzeuge für individuelle Beratung, Lieferung ab Emmerich und passendes Zubehör wie Stative oder Frontkappen: info@metav-werkzeuge.com, Tel. +49 2822 7131930.
Produktmerkmale
Fakten
- Artikelnummer: AM4517MTL-FJ
- Marke: Dino‑Lite
- Serie: Dino‑Lite EdgePLUS
- Schnittstelle: USB 2.0 (Micro‑B)
- Auflösung: 1.3 Megapixel (1280 x 960)
- Vergrößerung: 10x ~ 140x
- Bildrate: 30 fps bei 1.3 MP, MJPEG
- Abmessungen: 104 mm x 32 mm
- Gewicht: Approx. 90 g
Besonderheiten
- Long Working Distance (LWD) Optik
- IR‑Beleuchtung: 940 nm, 8 LEDs, 32 Intensitätsstufen
- Automatic Magnification Readout (AMR)
- Messfunktion
- Kalibrierfunktion
- Microtouch
- Scroll Lock
- Robust Metal Housing: anodized Aluminium Alloy (EMI‑Shielding)
- Included Cables: 1.8 m Micro‑B to Type‑C, 1.8 m Micro‑B to Type‑A
- Included Front Caps: N3C‑C (Close Cap), N3C‑E (Extended Open Cap), N3C‑L (Long Cap), N3C‑O (Open Cap)
- Norm: CE, FCC
- Ursprung: Taiwan
FAQ
Ist das Gerät für Rework und Lötkolbenarbeit geeignet?
Das AM4517MTL‑FJ USB Mikroskop von Dino‑Lite ist durch den langen Arbeitsabstand und das robuste Aluminiumgehäuse gut für Rework‑Aufgaben geeignet; die lange Distanz erlaubt den Einsatz von Lötkolben und Greifern unter der Optik.
Welche Softwarefunktionen unterstützt das Dino‑Lite USB Mikroskop?
Das Dino‑Lite AM4517MTL‑FJ unterstützt DinoCapture 2.0/3.0 und DinoXcope für Bild‑ und Videoaufzeichnung sowie Mess‑ und Kalibrierfunktionen, sodass Dokumentation und Analyse direkt am PC möglich sind.
Wie wird die IR‑Beleuchtung gesteuert und wofür ist sie nützlich?
Die IR‑Beleuchtung des AM4517MTL‑FJ arbeitet bei 940 nm mit 32 Intensitätsstufen und eignet sich besonders zur Hervorhebung von Kontrastunterschieden in Kunststoffen und Beschichtungen, ohne sichtbares Licht zu verwenden.
Benötige ich zusätzliches Zubehör für reproduzierbare Messungen?
Für präzise und reproduzierbare Messungen empfiehlt Dino‑Lite die Kombination des AM4517MTL‑FJ mit stabilem Stativ oder Kreuztisch sowie den passenden Frontkappen, die bereits im Lieferumfang enthalten sind.
Welche Betriebssysteme werden unterstützt?
Das Dino‑Lite AM4517MTL‑FJ ist kompatibel mit Windows 10/11 und macOS 10.14 oder später; die Software ermöglicht das Speichern in gängigen Bild‑ und Videoformaten wie PNG, JPG und MP4.
Hersteller: AnMo Electronics Corporation; 17F‑1, No. 97, Sec. 4, Chongxin Road, Sanchong Dist., New Taipei City 241513, Taiwan; Tel:+886-2-29749126; E‑Mail:Sales@anmo.com.tw / Verantwortlich: Metav Werkzeuge GmbH; Parkring 45; 46446 Emmerich; +49 2822 7131930; eMail: info@metav-werkzeuge.com